NATO Science Series B:203- Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

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With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work­ shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors. Langue en Version Broché Date de sortie initiale 13 octobre 2011 Nombre de pages 412 Illustrations Non Personnes impliquées Auteur principal Onbekend…

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Description

With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work­ shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.

Langue
en
Version
Broché
Date de sortie initiale
13 octobre 2011
Nombre de pages
412
Illustrations
Non

Personnes impliquées

Auteur principal

Onbekend

Rédacteur en chef

David Cherns

Editeur principal

Springer-Verlag New York Inc.

Informations sur le fabricant

Nom du fabricant
Springer Nature Customer Service Center GmbH
Adresse du fabricant
Europaplatz 3 | 69115| Heidelberg| DE
Adresse électronique du fabricant
[email protected]
Informations sur le fabricant
Les informations du fabricant ne sont actuellement pas disponibles

Autres spécifications

Hauteur de l’emballage
244 mm
Largeur d’emballage
170 mm
Largeur du produit
170 mm
Livre d‘étude
Non
Longueur d’emballage
244 mm
Longueur du produit
244 mm
Poids de l’emballage
734 g
Police de caractères extra large
Non
Édition
Softcover reprint of the original 1st ed. 1989

EAN

EAN
9781461278504

Sécurité des produits

Opérateur économique responsable dans l’UE

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Catégories

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Disponibilité

Disponible à l’adresse suivante

Langue

Anglais

Type de livre

Paperback

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